Bestrahlungsstärke großer bestrahlter Flächen simulieren
Mit dieser Simulation von Opsytec Dr. Gröbel berechnen Sie die Bestrahlungsstärke (mW/cm²) großer bestrahlter Flächen, die mehrere UV-LED-Leuchten der Serien SFL und Serie L gemeinsam ausleuchten – direkt im Browser. Ordnen Sie die Leuchten als Reihe, Raster, Ring oder frei per Tabelle an, drehen und kippen Sie sie und erhalten Sie sofort die Verteilung auf der Zielfläche als Heatmap, 3D-Ansicht und Schnittprofile – mit Uniformity, Homogenität und A/B-Vergleich zweier Varianten.
Gerechnet wird mit demselben Modell wie im UV-LED 3D-Bestrahlungsstärke-Rechner (gemessene Abstrahlcharakteristik der LED, Summe über alle LEDs). Zusätzlich berücksichtigt die Simulation die Verschattung durch die Nachbargehäuse bei gekippten Leuchten. Ergebnisse lassen sich als CSV, DXF-Draufsicht und PDF-Simulationsbericht exportieren. Die berechneten Werte sind orientierende Daten für die Auslegung; verbindliche Bestrahlungsstärken bestimmen Sie durch Messung, z. B. mit einem Opsytec-Radiometer.
Modell: Summe über alle LEDs aller Leuchten mit gemessener Abstrahlcharakteristik (E = Σ I₀·rel(θ)·cos ε / r²), wie im UV-LED 3D-Bestrahlungsstärke-Rechner, ergänzt um die Verschattung durch die Gehäuse der Nachbarleuchten. Arbeitsabstand ab Frontfläche; die Gesamtfläche liegt eben bei z = 0. Keine Reflexionen; Fertigungstoleranzen, LED-Streuung und Temperatureffekte nicht enthalten – orientierende Werte, keine Messwerte.
Modell und Annahmen der Flächensimulation
Jede Leuchte besteht aus ihrem LED-Raster (Reihen × Spalten, Pitch 10 mm). Für jeden Punkt der Zielfläche wird der Beitrag jeder einzelnen LED aller Leuchten aufsummiert (fotometrisches Entfernungsgesetz):
Formel: E = Σ I₀ · rel(θ) · cos ε / r²
θ ist der Winkel zur Achse der jeweiligen Leuchte (bei gekippten Leuchten gekippt), ε der Einfallswinkel auf der Zielfläche, r der Abstand. rel(θ) ist die gemessene Abstrahlcharakteristik der LED, I₀ folgt aus dem Strahlungsfluss je LED. Jede LED geht im Nahfeld als 3,5-mm-Chip mit fünf Teilquellen ein. Für eine einzelne, senkrechte Leuchte ist das Ergebnis identisch mit dem UV-LED 3D-Bestrahlungsstärke-Rechner.
Alle Leuchten einer Anordnung sind gleich (Produkt, Wellenlänge, LED-Leistung). Reihe und Raster setzen die Gehäuse mit der eingestellten Lücke nebeneinander (0 = Stoß an Stoß); der Ring setzt die Gehäusemitten auf den Ringradius. Gekippt wird um die Mitte der Frontfläche; der Arbeitsabstand gilt von der Frontfläche bis zur Zielfläche.
Jedes Gehäuse ist ein Quader mit den Maßen des Produkts oberhalb der Frontfläche. Trifft die Sichtlinie von einer LED zum Zielpunkt das Gehäuse einer anderen Leuchte, entfällt ihr Beitrag. Bei senkrechten Leuchten mit gemeinsamer Frontebene kann keine Verschattung auftreten; der Test wird dann übersprungen.
- Orientierende Simulation – Fertigungstoleranzen, LED-Streuung/Binning und Temperatureffekte sind nicht enthalten
- Keine Reflexionen an Gehäusen, Zielfläche oder Umgebung, keine Streuung
- Gehäuse als einfache Quader; Kühlrippen, Kabel und Halterungen sind nicht berücksichtigt
- Unterhalb von 10 mm Arbeitsabstand dominieren Chipgeometrie, Linse und Gehäuse – dort ist die Rechnung gesperrt
- Beim CAD-Modell wird die Einfallsrichtung je Fläche berücksichtigt, Abschattungen durch das Modell selbst nicht
Häufige Fragen zur Simulation großer Flächen
Die Simulation summiert die Beiträge aller LEDs mit der gemessenen Abstrahlcharakteristik und liefert orientierende Werte für Produktauswahl und Auslegung. Für eine einzelne Leuchte stimmt sie mit dem UV-LED 3D-Bestrahlungsstärke-Rechner überein. Fertigungstoleranzen, LED-Streuung und Binning, Temperatureffekte sowie Reflexionen an Gehäusen und Umgebung sind nicht enthalten. Verbindliche Bestrahlungsstärken bestimmen Sie durch Messung mit einem kalibrierten UV-Radiometer.
Der 3D-Rechner betrachtet eine einzelne Leuchte bzw. ein frei konfigurierbares LED-Raster. Diese Simulation ordnet mehrere gleiche Leuchten an – als Reihe, Raster n × m, Ring oder frei per Tabelle, gedreht und gekippt – und berücksichtigt dabei, dass die Gehäuse benachbarter Leuchten Licht abschatten können. Das Rechenmodell der einzelnen LED ist in beiden Werkzeugen dasselbe.
Bei Reihe und Raster geben Sie die Lücke zwischen den Gehäusen an; 0 mm bedeutet Stoß an Stoß. Beim Ring legen Sie den Radius fest, auf dem die Gehäusemitten liegen, und wählen, ob die Längsseite tangential oder radial ausgerichtet ist. Überschneiden sich Gehäuse, werden sie in der 3D-Ansicht und der Draufsicht rot markiert. Der Arbeitsabstand gilt von der Frontfläche bis zur Zielfläche.
Werden Leuchten gekippt, kann das Gehäuse einer Leuchte die Sichtlinie zwischen einer LED der Nachbarleuchte und dem Zielpunkt verdecken. Die Simulation prüft jede dieser Sichtlinien gegen die Gehäuse als einfache Quader; verdeckte Beiträge entfallen. Bei senkrechten Leuchten mit gemeinsamer Frontebene tritt keine Verschattung auf. Die Prüfung lässt sich unter „Berechnung & Anzeige“ abschalten.
Die Kennzahlen zeigen Uniformity (min/max) und Homogenität ((max − min)/(max + min)) auf der Zielfläche. Mit „Als A merken“ und „Als B merken“ vergleichen Sie zwei Varianten nebeneinander. Für Reihe, Raster und Ring sucht der Optimierer die Kombination aus Neigung zur Mitte, Lücke bzw. Ringradius und Arbeitsabstand mit der besten Uniformity, ohne dass sich Gehäuse überschneiden.
Zur Wahl stehen die Flächenstrahler SFL-UV-M, SFL-UV-L und SFL-UV-XL sowie die Serie L in den Größen XS, XS-HO, S, M und L; gerechnet wird mit Wellenlängen von 265 bis 450 nm. Ergebnisse lassen sich als CSV (Raster und Schnittprofile), die Anordnung als PNG und DXF und das Gesamtergebnis als PDF-Simulationsbericht exportieren; die Konfiguration lässt sich als Link weitergeben. STEP- und STL-Modelle werden ausschließlich lokal im Browser verarbeitet.
Autor: Dr. Mark Paravia
Dr.-Ing. Mark Paravia ist Geschäftsführer der Opsytec Dr. Gröbel GmbH in Ettlingen und leitet das akkreditierte Kalibrierlabor. Nach seiner Forschung zu gepulsten Xenon-Excimer-Entladungen am Lichttechnischen Institut des KIT gilt sein Schwerpunkt heute der optischen Strahlungsmesstechnik. Er ist stellvertretender Obmann im DIN-Normungsausschuss FNL 7 „Optische Strahlung" und Mitglied im DVGW-Projektkreis UV-Desinfektion.